Test.Automation

Partner für Montageautomation und Test-Systeme

Test-Automation

Automatisierung für Test-Stationen

Automationslösungen für Testsysteme
Datenblatt Referenzen als Download.pdf

Test.Solutions

Werkstücke
Kunststoffteile (Spritzguss), Dichtungen, Elektrikteile (Stecker, Gehäuse, Leiterplatten, …), Elektronikteile (Sensoren, Schalter, Wandler, ….)
Steckerpins, Mikromontageteile

Lieferform
Schüttgut, Tray, Blister, Magazine, Tubes, Fässer, …

Handlingsysteme
Zuführtechnik, Pick and Place, Rundschalttisch, Taktsysteme, Lineartransportsysteme, …

Prozesse
Fügen, Montieren, Einspritzen, Schweißen, Löten, Kleben, Bonden,
Heizen, Kühlen,Verkapselung, Laminierung, Laserbeschriftung, Labeling, Testing (Elt + Vision-Systeme), Verpackung,…

Branchen
Automotive, Elektronik, Medizin, Chemie, Biotechnologie, Halbleiter, Optik, Werkstoffforschung, Material- und Schichteigenschaften, Oberflächenanalyse, Beschichtungstechnologien, Device Test, Photovoltaik,
Sensortechnologien, E-Beam-Technologien, MEMS, MOEMS, OLED, OMBD

Automatisches Test- und Kalibriersystem
Vollautomatische Inlinelösung

  • Werkstückträger-Transfersystem
  • Testkammer mit spezieller/abgeschirmter Atmosphäre
  • Temperiereinrichtungen
  • Hochstromtest
  • Carriererkennung, Datenträger
  • Datenbankanbindung

Probe-Station für Rückseitendetektion
mit lichtdichter Textbox

  • Spezial-Photonenzähler
  • Präzisionsmechaniken
  • luftgelagerter Präzisionsmanipulaterpatentierter
  • Aufbau für hohe Kontakttierungskräfte
  • Substrate: dünne Wafer bis 300/450mm
  • Vision-System

Automatisches Testmodul
Vollautomatisches Inlinesystem

  • Hochgeschwindigkeits- Handlingeinheiten
  • Test elektronischer Bauelemente
  • Vision-Systeme
  • 100% -Kontrolle

Automatische Rundtakt-Testzelle
mit manueller Ein- / Ausgabestation

  • Präzisions- Rundschalttisch
  • Kurzschlussprüfungen
  • Kameraprüfungen
  • Laserbeschriftung
  • Teileausgabe

VAC-CRYO – Probe Station für MEMS-Test
mit EMV- und lichtdichter Umhausung

  • 4-Achs-Präzisions-Kreuztisch
  • CryoChuck für Substratkühlung mit Flüssigstickstoff (76K) und flüssigem Helium (4K)
  • Kamerainspektion
  • Mikroskopsystem
  • patentierte Carrierlösung
  • patentierte Substratbefestigung (vakuum- und kryotauglich)
  • Substrate: dünne Wafer, Chips, …

Device Test Station
mit IR infrarot Blackbody-Handlingsystem

  • Temperaturbereich: 10K … 500K
  • IR infrarot Blackbody-Testsystem mit Schnellwechselmodus
  • thinned wafer, chips, devices
  • Kamerainspektion
  • Mikroskopsystem
  • Schwingungsisolierter Maschinentisch, aktiv

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